ПОРТАТИВНЫЙ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП EZAFM+

Описание

zAFM+- это компактная система атомно-силовой микроскопии, которая обеспечивает высокое разрешение. ezAFM+ можно легко установить и использовать всего за несколько минут. ezAFM+ может использоваться для любых наук, таких как материаловедение, биология, химия, физика, авиакосмическая промышленность. Многие предприятия, университеты и даже средние школы используют ezAFM+.  Вся минимальная система ezAFM+ должна включать в себя один из выбранных режимов сканирования (опционально до 9 режимов сканирования), 5 необходимых консолей, головку сканера, устройство виброизоляции и ноутбук. С самого начала подключаются кабель питания, 2 USB-кабеля и кабель головки, а для запуска измерений открывается удобное программное обеспечение. Весь процесс установки программного обеспечения выполняется нашими специалистами по прикладным программам ezAFM. Гибкая конструкция ezAFM+ позволяет легко заменять / перемещать сканирующую головку, заменять консоли и образцы удобным для пользователя способом. В большинстве АСМ необходима перенастройка лазера и фотодиода после замены кантилевера. ezAFM+ предлагает конструкцию, в которой проблема «повторного выравнивания» решена. После установки кантилевера в систему ezAFM+ консоль будет автоматически настроена без каких-либо регулировок для воздуха или жидких сред.  EzAFM+ обеспечивает удобство использования для исследователей, и при размерах 25 x 25 см легко помещается в перчаточные боксы. Поскольку ezAFM+ не занимает много места и не тяжелый, его можно легко транспортировать. NanoMagnetics Instruments предлагает две разные сканирующие головки для ezAFM+. ezAFM120 имеет максимальную область сканирования до 120x120x40um. Этот вариант является лучшим решением для образцов с шероховатой поверхностью и обеспечивает разрешение 0,2 нм. Максимальная область сканирования ezAFM40 составляет 40x40x4um, а разрешение 0,02 нм позволяет сканировать однослойный графен.

Характеристики:

• Контактный и полуконтактный режимы
• 120x120x40 мк мили 40x40x4 мкм сканер
• Оптический микроскоп с электронной регулировкой фокусировки и источником белого света
• 2516x1960 видеокамера, 8MP изображения
• 24 bit DACs/ADCs с FPGA электронным контроллером
• 5 кантилеверов для каждого режима работы
• Пассивный виброизоляционный столик
• Пользовательский набор с различными калибровочными образцами, держателями, пинцетом и т. Д.
• Транспортный кейс
• Ноутбук

Возможности:

• Прерывистый контакт/Фазовая томография/Фазовый контраст
• Силовая микроскопия с зондом Кальвина (KPFM)
• Боковая силовая микроскопия (LFM)
• Проводящий АСМ (c-AFM)
• Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
• Несколько режимов спектроскопии
• Режим контакта/Статическая сила
• Силовая модуляция
• Магнитно-силовая микроскопия (MFM)
• Сканирующая рассеивающая микроскопия (SSRM)
• Режимы литографии и манипуляции
• Жидкостные режимы